APHA Szerző - Bideux L.4

P15353

 Application for the excitation of medium energy (up to 10keV) photoelectron and Auger lines used in the study of surface analytical applications.

Szerzők Tóth J.,  Molnár Gy.,  Varga D.,  Cserny I.,  Kövér L.,  Kiss J.,  Gál I.,  Nagy A.,  Domonyi A.,  Kertész Zs.,  Mosolygó J.,  Tarr G.,  Petô G.,  Szabó I.,  Ould-Metidji Y.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Matolin V.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.
Megjelenés helye Atomki Annual Report 2001 0 (2002) 58
Jelleg Annual Report
Témák Developm. of Instr. and Methods

P14381

 A special XPS-XAES X-ray source and its application for the excitation of medium energy (up to 10 keV) photoelectron and Auger lines used in the study of surface analytical applications (TU-P-TDE 07. Book of abstr.: p. 293).

Szerzők Tóth J.,  Molnár Gy.,  Varga D.,  Cserny I.,  Kövér L.,  Kiss J.,  Gál I.,  Nagy A.,  Domonyi A.,  Kertész Zs.,  Mosolygó J.,  Tarr G.,  Petô G.,  Szabó I.,  Ould-Metidji Y.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Matolin V.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.
Megjelenés helye ECASIA-2001. 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Avignon, France, 30 Sept. - 5 Oct., 2001 0 (2001) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P13960

 UHV aluminium oxide on silicon substrates: electron spectroscopies analysis and electrical measurements.

Szerzők Gruzza B.,  Merle S.,  Bideux L.,  Robert C.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Matolin V.
Megjelenés helye SCI Applied Surface Science 175 (2001) 656
Impakt faktor 1.0682001
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P13565

 UHV aluminium oxide on silicon substrates: Electron spectroscopic analysis and electric measurements. (Program and abstracts: p. WE-A0930).

Szerzők Gruzza B.,  Merle S.,  Bideux L.,  Robert C.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Matolin V.
Megjelenés helye 10th International Conference on Solid Films and Surfaces - ICSF-10. Princeton, USA, July 9-13, 2000 0 (2000) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Materials Science and Analytics

P13378

 Determination of yield ratios of elastically backscattered electrons for deriving inelastic mean free paths in solids.

Szerzők Varga D.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Tôkési K.,  Lesiak B.,  Jablonski A.,  Robert C.,  Gruzza B.,  Bideux L.
Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis 30 (2000) 202
Impakt faktor 1.2152000
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P12582

 Determination of yield ratios of elastically backscattered electrons for deriving inelastic mean free path in solids (ECASIA'99 Abstracts, MO-QA29 p.204).

Szerzők Varga D.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Tôkési K.,  Lesiak B.,  Jablonski A.,  Robert C.,  Gruzza B.,  Bideux L.
Megjelenés helye 8th European Conference on Applied Surface and Interface Analysis. Sevilla, Spain, 4-8 Oct., 1999 0 (1999) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics

P12579

 Experimental determination of the inelastic mean free path of electrons in GaSb and InSb.

Szerzők Gergely G.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.,  Tóth J.,  Varga D.,  Jablonski A.,  Krawczyk M.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Robert C.
Megjelenés helye SCI Applied Surface Science 144 (1999) 173
Impakt faktor 1.1951999
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (2)

P12399

 Experimental determination of the inelastic mean free path of electrons in GaSb and InSb.

Szerzők Gergely G.,  Menyhárd M.,  Tóth J.,  Varga D.,  Jablonski A.,  Krawczyk M.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Robert C.
Megjelenés helye Atomki Annual Report 1998 0 (1999) 42
Jelleg Annual Report
Témák Materials Science and Analytics

P12077

 Crystalline effects in elastic peak electron spectroscopy.

Szerzők Gergely G.,  Barna A.,  Sulyok A.,  Jardin C.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Robert C.,  Tóth J.,  Varga D.
Megjelenés helye SCI Vacuum 54 (1999) 201
Impakt faktor 0.5101999
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P11773

 Experimental determination of the inelastic mean free path of electrons in GaSb and InSb (Abstract book of QSA-10, AS.WeA.7 p.34).

Szerzők Gergely G.,  Menyhárd M.,  Tóth J.,  Varga D.,  Jablonski A.,  Krawczyk M.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Robert C.
Megjelenés helye 10th International Conference on Quantitative Surface Analysis. Birmingham, UK, 31 Aug. - 4 Sept., 1998 0 (1998) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Materials Science and Analytics
Összes Publikációja

Szerzői Táblázat

Total Headed by ATOMKI under name
of the author
Part of the author Part of the author & ATOMKI
Publications:1400.6710
SCIPublications:400.2050
Cited publications:400.2050
Non-locally cited publications:300.1770
Cited SCIpublications:400.2050
Non-locally cited SCIpublications:300.1770
SCICited publications:200.1210
Non-locally SCIcited publications:200.1210
SCICited SCIpublications:200.1210
Non-locally SCIcited SCIpublications:200.1210
Citations:500.2550
Non-local citations:400.2270
SCICitations:500.2550
Non-local SCIcitations:300.1710
Impact~2001:3.98800.6710
Averaged impact:0.28500.6710
SCIaveraged impact:0.99700.2050
Citational effectivity:1.2500.2050
Non-local citational effectivity:1.33300.1770
SCIcitational effectivity:1.500.1210
Non-local SCIcitational effectivity:1.500.1210
Publications, n:9.429000
SCIPublications, n:7.75000
Cited publications, n:7.75000
Non-locally cited publications, n:7.667000
Cited SCIpublications, n:7.75000
Non-locally cited SCIpublications, n:7.667000
SCICited publications, n:7.5000
Non-locally SCIcited publications, n:7.5000
SCICited SCIpublications, n:7.5000
Non-locally SCIcited SCIpublications, n:7.5000
z-index:1000