Publikáció

APHA-kód P22098
Szerzők Vad K.,  Csik A.,  Langer G. A.
Cím Secondary neutral mass spectrometry - a powerful technique for quantitative elemental and depth profiling analyses of nanostructures.
Megjelenés helye Spectroscopy Europe 21 (2009) 13
Impakt faktor 0.000
Megnézem   Hivatkozások (5)