English
| APHA-kód | P18218 |
| Szerzők | Papp T., Lépy M. C., Plagnard J., Kalinka G., Papp-Szabó E. |
| Cím | A new approach to the determination of the Fano factor for semiconductor detectors. |
| Megjelenés helye | X-Ray Spectrometry 34 (2004) 106 |
| Impakt faktor | 1.391 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (18) |
