Publikáció

APHA-kód P24615
Szerzők Lovics R.,  Csik A.,  Takáts V.,  Hakl J.,  Vad K.,  Langer G. A.
Cím Depth profile analysis of solar cells by Secondary Neutral Mass Spectrometry using conducting mesh.
Megjelenés helye Vacuum 86 (2012) 721
Impakt faktor 1.530
Megnézem   Hivatkozások (3)