Kutatási eszközök

Tandetron
	Kategória	Gyorsító
Típus	2.0 MV Medium-Current Plus Tandetron Accelerator System
Szervezeti egység	Részecskegyorsító Központ
Eszközfelelős	Vajda István
Üzembentartó	Atomki
Proton energia: 200 keV - 4 MeV, áram: 200 eµA, fényesség: 8-16 Amp(rad)^-2m^-2eV^-1 Hélium energia: 200 keV - 6 MeV, áram: 40 eµA További ionok: pl. B, C, O, S, Si, Cu stb. energia: 200 keV ~ 10 MeV (a töltésállapottól függően), áram: 10-50 eµA (az ion fajtájától függően) Terminálfeszültség stabilitás: ± 30 V / 4 hrs (résáram stabilizálással) Terminálfeszültség ripple: 25 V_RMS

Másodlagos-semlegesrészecske/ion tömegspektrométer (SNMS/SIMS)
	Kategória	Mérőrendszer
Típus	Spect
Szervezeti egység	Anyagtudományi Laboratórium
Eszközfelelős	Dr. Vad Kálmán
Üzembentartó	Atomki - Debreceni Egyetem
A másodlagos semleges-részecske/ion tömegspektrométer (SNMS/SIMS) vékonyrétegekben és felületi bevonatokban kialakuló koncentráció-eloszlások nanométeres feloldással történő vizsgálatára nyújt lehetőséget. Alkalmas akár 1-2 nm egyedi rétegvastagságú többrétegű rendszerek, felületi bevonatok összetevői mélységi eloszlásának vizsgálatára, vagy a felülethez képest mélyebben fekvő határrétegek összetételének kutatására. Segítségével vizsgálhatóak a félvezető és polimer rendszerek adalék komponenseinek mélységi eloszlása is.

FTIR spektrométer
	Kategória	Mérőberendezés
Szervezeti egység	Tandetron Laboratórium
Eszközfelelős	Dr. Huszánk Róbert
Üzembentartó	Atomki
Fourier-transzformációs infravörös spektrométer (FTIR)